日東精工 電阻率自動(dòng)測(cè)量 用于測(cè)量ITO薄膜

日東精工 電阻率自動(dòng)測(cè)量 用于測(cè)量ITO薄膜

適用于測(cè)量ITO薄膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布以及傳送帶的電阻率分布。

特征

測(cè)量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出可以自動(dòng)化。

（電路板尺寸最大可達(dá) 650 x 650 毫米。）

以三維圖形顯示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。

測(cè)量位置設(shè)置可以通過(guò)三種方式一鍵完成：網(wǎng)格輸入和順序輸入。

它可用于廣泛的用途，從研究和開(kāi)發(fā)到在線(xiàn)抽樣檢查。

有從低電阻率到高電阻率兩種類(lèi)型。

不受樣品形狀影響，精確測(cè)量表面電阻率[Ω/?]和體積電阻率[Ω?cm]

特征

導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

能夠繪制最大300mm見(jiàn)方的樣品并連續(xù)測(cè)量多個(gè)樣品。

可連接到 Loresta GX 以測(cè)量 10-4 至 10+7Ω 范圍

全自動(dòng)測(cè)量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出

導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

隨著顯示器件（液晶和有機(jī)EL）要求具有更快的響應(yīng)速度和更高的清晰度，電極基板的均勻性變得更加重要。

表面電阻率取決于材料。當(dāng)材料均勻時(shí)，薄膜越厚，表面電阻率越低。

在薄膜領(lǐng)域，薄膜厚度變化通過(guò)表面電阻率繪圖來(lái)評(píng)估。

目的

Hiresta-UX 是一款測(cè)量電阻率的測(cè)量?jī)x器，電阻率是材料的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)之一。

測(cè)量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對(duì)于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制和研發(fā)非常有用。

輕松準(zhǔn)確地測(cè)量材料的表面電阻率和體積電阻率，用于抗靜電材料研發(fā)、生產(chǎn)線(xiàn)質(zhì)量控制或材料。

該裝置采用符合JIS K6911的測(cè)量方法，可以使用各種探頭測(cè)量塑料、薄膜和油漆等多種材料。為了穩(wěn)定地測(cè)量

10 6

Ω以上的高電阻材料，最好使用雙環(huán)進(jìn)行測(cè)量。 我們的探頭采用雙環(huán)電極。

主要測(cè)量目標(biāo)

抗靜電材料、建筑材料、地板材料、各種紙張、包裝材料、涂料、纖維、混凝土、陶瓷、樹(shù)脂、薄膜等。